EL-DSP-EXPIII+数字信号处理器实验开发系统

专家III+型（EL-DSP-EXPIII+）教学实验系统采用模块化分离式结构，便于用户使用、扩展和二次开发。该系统采用单CPU设计，支持54X系列和2X系列的CPU板。客户可根据自己的需求选用不同类型的CPU板，目前可选CPU板有：TMS320VC5402、TMS320VC5416、LF2407、F2812、VC5509。用户在不需要改变任何配置情况下，更换CPU板即可做不同类型的DSP实验。通过“E-lab”和“Techv”扩展总线，可以扩展机、电、声、光等不同领域的扩展模块，完成数据采集、图象处理、通讯、网络、控制等扩展实验。除此之外，在实验箱上有丰富的外围扩展资源，可以完成DSP基础实验、算法实验、编解码试验、扩展实验。

专家III+型系统组成框图

实验一　常用指令实验

实验二　数据存储实验

实验三　I/O实验

实验四　定时器实验

实验五　外部引脚中断实验

实验六　A/D转换实验1 
 

实验七　A/D转换实验2

实验八　D/A转换实验

实验九　键盘接口及数码管显示实验

实验十    数字波形产生

实验十一  PWM波形产生实验

实验十二  二维图形生成
 

实验十三  信号混叠与数字滤波实验

实验十四  数字图象处理实验

实验十五  DTMF(双音多频)信号的产生与检测

实验十六  LCD实验

实验十七  RS232 串口通讯实验

实验十八  CAN 总线通讯实验
 

实验一　卷积（Convolve）算法实验

实验二　快速傅立叶变换（FFT）算法实验

实验三　有限冲击响应滤波器（FIR）算法实验
 

实验四　无限冲击响应滤波器（IIR）算法实验

实验五　离散余弦变换(DCT)算法

实验六　相关(Correlation)算法
 

实验七　µ_LAW算法

实验一　常用指令实验

实验二　数据存储实验

实验三　I/O实验

实验四    定时器实验

实验五　INT2中断实验

实验六    A/D转换实验
 

实验七　D/A转换实验

实验八    语音处理实验

实验九　键盘接口及七段数码管显示实验

实验十  LCD实验

实验十一  数字图象处理实验

实验十二　数字波形产生
 

实验十三  二维图形生成

实验十四  BOOTLOADER装载实验

实验十五  USB通讯实验

实验十六  以太网通讯实验

实验十七  U盘读取实验
 

实验一　快速傅立叶变换（FFT）算法实验

实验二　有限冲击响应滤波器（FIR）算法实验

实验三　无限冲击响应滤波器（IIR）算法实验
 

实验四　卷积（Convolve）算法实验

实验五　离散余弦变换(DCT)算法

实验六　相关(Correlation)算法
 

实验七　µ_LAW算法

实验八　语音编码/解码（G711编码/解码器）

实验九  AD采样FFT分析实验
 

实验一  常用指令实验

实验二  数据存储实验

实验三  I/O实验

实验四  定时器实验

实验五  INT2中断实验

实验六  A/D转换实验
 

实验七  D/A转换实验

实验八  语音处理实验

实验九  键盘接口及七段数码管显示实验

实验十  LCD实验

实验十一  数字图象处理实验

实验十二  数字波形产生
 

实验十三  二维图形生成

实验十四  BOOTLOADER装载实验

实验十五  USB 通讯实验

实验十六  以太网通讯实验
 

实验一  快速傅立叶变换（FFT）算法实验

实验二  有限冲击响应滤波器（FIR）算法实验

实验三  无限冲击响应滤波器（IIR）算法实验
 

实验四  卷积（Convolve）算法实验

实验五  离散余弦变换(DCT)算法

实验六  相关(Correlation)算法
 

实验七  u_LAW算法

实验八  语音编码/解码

实验九  A/D采样FFT分析实验
 

第一部分  基于Techv系列模块的扩展实验(若干个)

第二部分  基于E-lab系列模块的扩展实验(若干个)